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日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測量儀NS-A系列 破碎設(shè)備
更新日期：2024-05-14
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測量儀NS-A系列
NS-A系列細(xì)顆粒破碎力測量儀是一種通過壓頭對細(xì)顆粒和顆粒加壓，可以直接測量破碎時非常微弱的力的設(shè)備。可測量的負(fù)載為 10nN。通過更換檢測傳感器，可以測量高達 9 位至 10N 的各種微小力。在顆粒硬度（強度）和顆粒硬度（強度）的測量中，我們實現(xiàn)了易用性和測量精度。
- 可以測量用戶規(guī)定的任何顆粒的破碎力（強度）。
-通過更換傳感器，可以測量從 10nN 到 10N 的寬范圍。
? 可測量 3 μm 的顆粒。
- 溫控臺（可選）可控制臺溫高達150°C。
-高性能隔振臺（選件）可實現(xiàn)高精度測量，并*抑制測量噪音。
顆粒被壓碎時的運動被記錄為視頻（標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格），并且有專門用于以與測量波形相關(guān)聯(lián)的形式回放的軟件。
日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測量儀NS-A系列
適用于以下評價
?顆粒粉碎特性的測量
?調(diào)色劑溫度依賴性顆粒強度變化的測量
?原材料粉末的質(zhì)量控制?原材料選擇評估
?電池材料強度測量
?顆粒涂膜評估
? 一種墨粉顆粒強度的測量
?薄膜強度的測定
智能負(fù)載傳感器
通過根據(jù)樣品更換負(fù)載傳感器，可以測量各種細(xì)小顆粒和粒狀物料的破碎力。只需輕輕一按即可更換負(fù)載傳感器。通過使用來自傳感器外部的激光掃描負(fù)載檢測器來檢測負(fù)載。我們實現(xiàn)了廣泛的測量檢測測量范圍，可以處理各種樣品。
規(guī)格
| 專用測量軟件（適用于 Windows） |
| 體視顯微鏡（屏幕放大倍數(shù) 3000x） |
| 樣品臺（陶瓷鏡面制作） |
| 附帶專用工具 |
| 專用個人電腦 |
| 金屬鹵化物光源（80W） |
| 智能負(fù)載傳感器測量范圍 （6種） | |
| 10mN-10N | 10μN～1mN |
| 1mN-100mN | 1 μN 至 100 μN |
| 0.1mN-10mN | 10nN-10μN |
| 控溫階段可達150℃ | 高性能隔振臺0.5Hz |
| 待測樣品 | 3 微米至 1 毫米 | |
|---|---|---|
| 可測量負(fù)載范圍 | 10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN | |
| 測量壓縮速度 | 100 納米/秒至 50 微米/秒 | |
| 圖像捕捉 | 3CCD攝錄一體機 | |
| 溫控臺 | 常溫～150℃ | |
| 高性能隔振臺 | 垂直 0.5Hz（可選） | |
| 尺寸/重量 | 身體 | 450W x 500H x 450D (20kg) |
| 控制器 | 320W x 250H x 350D (10kg) | |
| 電源 | AC100V 3A | |
